Gate Drivers | FAN1100_F085

点火门极驱动器集成电路

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FAN1100_F085 用于直接驱动点火 IGBT，控制线圈的电流和火花事件。线圈电流通过输入引脚进行控制。输入驱动高电平时，FAN1100_F085 的输出将启用，以打开 IGBT 和启动线圈充电。FAN1100_F085 基于 RA 线路上的编程电流将电流 (IIN) 汲取到输入引脚中。输入尖峰滤波器抑制持续时间小于 13 µsec 的输入信号。FAN1100_F085 中包括了最大驻留计时器，如果输入保持活动的时间长于编程设置的时间，则关闭 IGBT。此时间间隔可通过 CSSD 上的外部电容器进行修改。超过最长驻留计时器时，FAN1100_F085 将进入软关断模式 (SSD)，通过降低 IGBT 的门极驱动器速度，慢慢降低集极电流，从而对线圈放电，禁止火花等事件。一旦启动软关断操作，输入信号上的任何转换都被忽略，直到软关断功能完成。FAN1100_F085 还将在充电期间将 IGBT 的集极电流限制到 Ic(lim)。这也是通过可产生进入 FAN1100_F085 的 Vsense 引脚的信号输入的点火 IGBT 发射器支脚中的感应电阻完成的。

  • 信号线路输入缓冲器
  • 输入尖峰滤波器
  • 从点火或电池线开始运行
  • 地面位移容差 +/- 1.5 V
  • 可编程最大保压时间
  • 可编程输入拉低电流
  • 通过 Vsense 引脚控制 IGBT 电流
  • 最大保压时间结束后进行软关断

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VCC Max (V)

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Fall Time (ns)

Drive Source Current Typ (A)

Drive Sink Current Typ (A)

Turn On Prop. Delay Typ (ns)

Turn Off Prop. Delay Typ (ns)

Delay Matching

Reference Price

FAN1100-F085

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Pb

A

H

P

SOIC-8

751EB

3

225

REEL

2500

Y

IGBT

1

Single

Non-Isolated

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Device: FAN1100-F085

Equivalent to wafer fab process: CMOS SUB

产品技术

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等效器件小时

平均故障间隔时间/平均无故障时间（按小时计算）

FITS

CMOS SUB

2

920154574

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Data is based on the following assumptions.

Note: The temperature and confidence level may be adjusted to your requirements.

Disclaimer: A reliability FIT rate calculated using this tool shall not be used for any functional safety purpose. In case a raw FIT rate needs to be estimated for a component which is targeted to be used in a safety critical application (i.e. compliant to ISO 26262 standard) it should be calculated according to generic safety standards (IEC62380, IEC61709, SN29500, FIDES, etc.)

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