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MC74VHC259 是一款先进的 8 位可寻址锁存,采用硅门极 CMOS 工艺制造。它实现了与同等双极肖特基 TTL 相似的高运行速度,同时保持了 CMOS 低功耗。该内部电路由三级组成,包括一个提供高抗扰性和稳定输出的缓冲输出。VHC259 适用于数字系统中的通用存储应用。该器件具有四种运行模式,如模式选择表中所示。在可寻址锁存模式下,数据输入上的数据将写入已寻址的锁存。已寻址锁存沿用数据输入,所有未寻址锁存保持在之前状态。在内存模式下,所有锁存保持在之前状态,不受数据或地址输入的影响。在 1/8 解码或信号分离模式下,已寻址输出遵循数据输入的状态,所有其他输出为低电平状态。在重置模式下,所有输出为低电平,不受地址和数据输入影响。VHC259 作为可寻址锁存运行时,更改地址的多个位可能会造成瞬变错误地址。因此,应在内存模式下完成此类更改。MC74VHC259 输入结构可在高达 7 V 的应用电压下提供保护,而无论电源电压如何。因此,MC74VHC259 用于将 5 V 电路接口至 3 V 电路。
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MC74VHC259DG
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MC74VHC259DR2G
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MC74VHC259DTG
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Device: MC74VHC259DG
Equivalent to wafer fab process: CMOS SUB
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FITS
CMOS SUB
2
920154574
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Data is based on the following assumptions.
Note: The temperature and confidence level may be adjusted to your requirements.
Disclaimer: A reliability FIT rate calculated using this tool shall not be used for any functional safety purpose. In case a raw FIT rate needs to be estimated for a component which is targeted to be used in a safety critical application (i.e. compliant to ISO 26262 standard) it should be calculated according to generic safety standards (IEC62380, IEC61709, SN29500, FIDES, etc.)